Trong thiết kế IC, nguyên lý "Design for Testability (DFT)" nhằm mục đích gì?

A. Không có hạt bụi

B. 1 hạt bụi

C. 10 hạt bụi

D. 100 hạt bụi

A. Vi mạch TTL

B. Vi mạch CMOS

C. Vi mạch ECL

D. Vi mạch BiCMOS

A. Phủ lớp photoresist

B. Quá trình khắc

C. Phủ lớp bảo vệ

D. Làm sạch bề mặt

A. Chạy dây chuyền sản xuất

B. Chế biến cơ học

C. Chế biến hóa học

D. Chế biến cơ học, hóa học và điện tử

A. Việc thiết kế không phụ thuộc vào công nghệ sản xuất

B. Việc sử dụng công nghệ mới nhất cho mỗi dự án

C. Việc tối ưu hóa công nghệ sản xuất cho từng vi mạch

D. Việc chuyển đổi sang công nghệ khác khi cần thiết

A. Nguyên tắc Moore

B. Số lượng linh kiện sử dụng

C. Cấu trúc layout của vi mạch

D. Công nghệ sản xuất sử dụng

A. Met (m)

B. Nanomet (nm)

C. Centimet (cm)

D. Milimet (mm)