300+ câu trắc nghiệm Đo lường và kỹ thuật đo có đáp án - Phần 6

A. Có độ chính xác cao

B. Độ nhạy thấp

C. Tốc độ đo thấp, tự động hóa hoàn toàn trong quá trình đo

D. Kết quả đo hiển thị dạng số.

A. Chia tần số của bộ tạo xung chuẩn f0

B. Chia tần số cần đo fx

C. Tạo xung điều khiển

D. Tạo dạng xung.

A. Có độ chính xác thấp

B. Độ nhạy thấp.

C. Tốc độ đo chậm, không tự động hóa được

D. Kết quả đo hiển thị dạng số

A. Phát ra chùm tia điện tử

B. Hội tụ chùm tia điện tử

C. Nung nóng Katot

D. Nung nóng Anot

A. B

B. A

C. D

D. C

A. Phát ra chùm tia điện tử

B. Hội tụ chùm tia điện tử

C. Gia tốc cho chùm tia điện tử

D. Nung nóng

A. Điện trở shunt mắc song song với cuộn dây di động (cơ cấu điện động)

B. Thay đổi đường kính dây (cơ cấu điện từ)

C. Dùng điện trở Shunt (cơ cấu từ điện)

D. Tất cả đều đúng.

A. Truyền dẫn tín hiệu từ đầu vào đến thiết bị biến đổi

B. Cung cấp năng lượng cho thiết bị đo.

C. Chỉ thị kết quả đo được.

D. Lưu giữ kết quả.

A. 100.1 Hz

B. 100.14 Hz

C. 100.2 Hz

D. 100 Hz

A. Dùng Vôn kế để đo điện áp.

B. Dùng Vôn kế và ampe kế để đo công suất

C. Đo hệ số sóng chạy bằng dây đo

D. Dùng Vôn kế và ampe kế để đo điện trở

A. Điện trở vào của Volmet phải nhỏ, điện trở vào của Ampemet phải nhỏ

B. Điện trở vào của Volmet phải lớn, điện trở vào của Ampemet phải nhỏ.

C. Điện trở vào của Volmet phải nhỏ, điện trở vào của Ampemet phải lớn.

D. Điện trở vào của Ampemet phải lớn, điện trở vào của Ampemet phải lớn.

A. Rx = R1R3/R2.

B. Rx = R1R2/R3

C. Rx = R2R3/R1.

D. Rx = 2R1R3/R2.

A. Xác suất xuất hiện của các sai số có giá trị khác nhau là như nhau

B. Xác suất xuất hiện sai số phụ thuộc vào dấu.

C. Các sai số có trị số bằng nhau về giá trị tuyệt đối nhưng khác dấu thì có xác suất xuất hiện như nhau.

D. Xác suất xuất hiện của các sai số có trị số bé thì ít hơn xác suất xuất hiện của các sai số có trị số lớn.

A. Điện áp quét là hàm liên tục theo tần số

B. Điện áp quét là hàm liên tục theo thời gian

C. Điện áp quét là hàm gián đoạn theo thời gian

D. Điện áp quét là hàm gián đoạn theo tần số

A. B

B. D

C. A

D. C

A. Cơ cấu đo từ điện có độ nhạy kém

B. Cơ cấu đo điện từ làm có độ nhạy kém

C. Cơ cấu đo từ điện có dòng toàn thang lớn

D. Cơ cấu đo điện từ có độ chính xác cao

A. Bằng không

B. Cực tiểu

C. Cực đại.

D. Không xác định.

A. Anot của tất cả các điốt đều được nối chung với cực dương của nguồn (mức logic 1).

B. Catot của tất cả các điốt đều được nối chung với điểm có điện thế bằng 0 (cực âm của nguồn).

C. Anot của tất cả các điốt đều được nối chung với điểm có điện thế bằng 0 (cực âm của nguồn).

D. Catot của tất cả các điốt đều được nối chung với điểm có điện thế bằng 0 (cực âm của nguồn).

A. Nam châm vĩnh cửu

B. Lõi từ

C. Má cực từ

D. Khung dây cuốn

A. Kg

B. F

C. oC

D. W

A. Không ảnh hưởng đến sai số phép đo

B. Ảnh hưởng nhiều đến sai số phép đo

C. Ảnh hưởng ít đến sai số phép đo

D. Có ảnh hưởng đến sai số phép đo

A. Cơ cấu đo từ điện có độ nhạy lớn

B. Cơ cấu đo điện từ có thang đo tuyến tính

C. Cơ cấu đo từ điện có dòng toàn thang lớn

D. Cơ cấu đo từ điện có độ nhạy nhỏ

A. Có độ chính xác thấp

B. Độ nhạy cao.

C. Tốc độ đo cao, tự động hóa hoàn toàn trong quá trình đo.

D. Kết quả đo hiển thị dạng số

A. C

B. A

C. D

D. B

A. ADC

B. DAC

C. Bộ điều khiển

D. Mạch đồng bộ

A. Phát ra chùm tia điện tử

B. Điều chỉnh cường độ chùm tia điện tử

C. Tạo gia tốc và hội tụ chùm tia điện tử

D. Nung nóng Katot

A. S = dY/dX.

B. S = dX/dY.

C. S = dY/Y.

D. S = dX/X.

A. Hiệu chỉnh lại máy móc, thiết bị đo với máy mẫu.

B. Không xử lí được, chỉ có thể định lượng được giá trị sai số ngẫu nhiên bằng lí thuyết xác xuất thống kê.

C. Cộng đại số giá trị của sai số hệ thống vào kết quả đo.

D. Sử dụng các phương pháp đo khác nhau

A. tgδ = 1/ωR4C4

B. tgδ = 1/ωR1C4

C. tgδ = 1/ωR3C4

D. tgδ = 1/ωRxC4

A. Ghép tín hiệu có tần số cần đo đưa vào mạch cộng hưởng

B. Ghép tín hiệu có tần số cần đo đưa vào khối điều chuẩn

C. Ghép tín hiệu có tần số cần đo đưa vào khối khuếch đại

D. Ghép tín hiệu có tần số cần đo đưa vào khối chỉ thị